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Microscopía de fuerzas atómicas

Ubicación y contacto

El técnico responsable es en Joan Cifre (ext.173485), el equipo se encuentra en el "Laboratorio de microsccopía D0" en la planta baja dels SCT.

Técnica

El principio de la microscopía de fuerzas atómicas es la detección de las fuerzas de interacción atómica o molecular entre una punta de acero de tamaño nanométrico y la superficie de la muestra. Esta técnica permite obtener imágenes superficiales de las muestras con resolución nanométrica. Dependiendo de la señal analizada se obtienen mapas de morfología y rugosidad superficial (modo AFM), se pueden visualizar zonas de diferente composición (análisis de fase y de amplitud), dominios magnéticos (modo MFM) y mapas de fricción (modo fuerza lateral) entre otros. La principal diferencia respecto a otras microscopías de alta resolución es que es una técnica no destructiva que permite trabajar en cualquier ambiente: aire, líquido o vacío.

Equipamiento

  • Microscopio VEECO modelo multimode.
  • Escáner de 12 μm x 12 μm.
  • Controladora Nanoscope IV.
  • Accesorios para medida de contacto, mode tapping, medidas en ambiente líquido y medidas magnèticas.
  • Software de tratamiento de imágenes y metrologia.

AFMAFM2

Aplicaciones:

  • Obtención de imágenes topográficas tridimensionales de escala nanométrica.
  • Metrologia: medidas tridimensionales de detalles superficiales.
  • Estudio nanométrico de muestras biológicas en su medi natural.
  • Observación de la evolución superficial en tiempo real.
  • Obtención de mapes de dominios magnéticos.
  • Obtención de mapas superficiales de diversas propiedades físicas.
  • Obtención de curvas de fuerza.